Utente:AlePas97/Chimica Forense/Tecniche analitiche: differenze tra le versioni
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=== Diffrazione di raggi X ===
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XRD è una tecnica usata per determinare la disposizione degli atomi all'interno di un campione solido e risulta anche anche molto utile per identificare gli atomi componenti il cristallo. La lunghezza d'onda dei raggi X utilizzata è circa uguale alla distanza tra i piani degli atomi all'interno del reticolo cristallino, quindi si produrranno picchi di diffrazione ad intensità variabile quando un fascio di raggi X colpisce il reticolo cristallino. Due onde impattano il cristallo con un angolo θ e vengono diffratte mantenendo lo stesso angolo. Quando la prima onda colpisce lo strato più in alto e la seconda onda impatta lo strato successivo, si dice che le onde sono in fase. Tra i due raggi si verifica interferenza costruttiva ad un angolo θ se la differenza di lunghezza del percorso è uguale ad un numero intero di lunghezze d'onda, nλ (dove n è un numero intero e λ è la lunghezza d'onda). La relazione fondamentale nella diffrazione di raggi X è l'equazione di Bragg:
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