Micro e nanotecnologia/Microtecnologia/Film sottili/Film metallici: differenze tra le versioni

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elettroni agli ioni]]
[[Immagine:Void_formation.jpg|thumb|300px|right|Formazione di cavità (''voids'') in un conduttore a causa della elettromigrazione]]
L'[[w:Elettromigrazione|elettromigrazione]] è il trasporto di materiale causato dal movimento graduale di ioni in un conduttore a causa del trasferimento di quantità di moto tra elettroni di conduzione e atomi del metallo. La quantità di moto trasferita è tanto maggiore quanto maggiore è la densità di corrente. Al diminuire delle dimensionedimensioni dei circuiti usati in microelettronica aumenta la densità di corrente e di conseguenza la elettromigrazione che era una semplice curiosità 100 anni fà quando è stata scoperta da Gerardin<ref>http://ieeexplore.ieee.org/iel5/9994/32106/01493049.pdf?arnumber=1493049</ref>, con la diminuzione di dimensione dei circuiti integrati questo fenomeno diventato sempre più importante in microelettronica