Micro e nanotecnologia/Microtecnologia/Tecniche diagnostiche/Interazione con fasci di elettroni/SEM: differenze tra le versioni

 

Per l'analisi di piccole parti di campioni di dispositivi nanometrici è diventata diffusa una preparazione che riproduce su scala nanometrica la lavorazione meccanica di una [[w:Fresatrice|fresa]]. La tecnica fa uso di un [[w:Fascio_ionico_focalizzato|fascio ionico]] per scavare lamine ultrasottili di campioni da studiare.