Micro e nanotecnologia/Microtecnologia/Film sottili: differenze tra le versioni

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I '''filmFilm sottili''' sono materiali sottili che vanno da frazioni di nanometri a parecchi µm in spessore. I dispositivi a semiconduttori e la copertura di lenti sono le principali applicazioni di tali tecniche.
 
L'azione di applicare un film sottile su una superficie è chiamata deposizione di film sottile.
In genere con tale nome si indica sia la deposizione di un film sottile di materiale su un substrato o su uno strato precedentemente depositato. Sottile è un termine relativo, ma la maggior parte delle tecniche di deposizione permettono il controllo dello spessore dello strato con una precisione pochi ''nm'', nella tecnica di [[w:Epitassia_di_fasci_molecolari|MBE]] è possibile avere un controlli sui singoli atomi depositati.
 
un controlli sui singoli atomi depositati.
In genere con tale nome si indica sia la deposizione di un film sottile di materiale su un substrato o su uno strato precedentemente depositato. Sottile è un termine relativo, ma la maggior parte delle tecniche di deposizione permettono il controllo dello spessore dello strato con una precisione pochi ''nm'', nella tecnica di [[w:Epitassia_di_fasci_molecolari|MBE]] è possibile avere un controlli sui singoli atomi depositati.
 
Esistono due metodologie generali di deposizione di film sottili: la deposizione fisica da fase vapore (''Physical vapor deposition'': PVD) e la deposizione chimica da fase vapore (''Chemical Vapor Deposition'': CVD).
 
=== Elettromigrazione ===
L' elettromigrazione è un fenomeno di trasporto di atomi dovuti alla densità di corrente; più.
Più uno schema diviene più piccolo e più la densità di corrente aumenta, e quindi aumenta questo fenomeno.
 
=== Metallizzazione ===
Fino a poco tempo fa le metallizzazioni erano fatte di alluminio, ma piano piano si sta passando a utilizzare il rame.
Questo cambio di tendenza è dovuto allo sforzo che si sta facendo per aumentare il livello di integrazione.
Questo porta ad una diminuzione delle dimenzioni del dispositivo e le conseguenze più immediate sono:
* aumento delle resistenze della linea;
* aumento delle capacità viste dalla linea;
* aumento della densità di corrente nella linea;
 
* aumentoAumento delle resistenze della linea;
È ben noto tra due fili metallici, posti ad una certa distanza, avvengono fenomeni capacitivi più o meno intensi a seconda del dieletrico che viene interposto tra i 2.
* aumentoAumento delle capacità viste dalla linea;
 
* aumentoAumento della densità di corrente nella linea;
Questo fenomeno è schematizzabile come un circuito RC che introduce un ritardo che è dato dal prodotto RC. Dobbiamo quindi ridurre la resistività della linea e ridurre il più possible il fenomeno dell' elettromigrazione. Poichè la resistività è più bassa e l'energia di attivazione(che è direttamente proporzionale al tempo medio in cui si verifica all'elettromigrazione)è più alta(e a noi fa comodo perchè più questo tempo aumenta meno si verifica l'elettromigrazione) nel rame rispetto all'alluminio allora il primo è un candidato per l'utilizzo.
 
ÈE' ben noto tra due fili metallici, posti ad una certa distanza, avvengono fenomeni capacitivi più o meno intensi a seconda del dieletrico che viene interposto tra i 2.
Questo fenomeno è schematizzabile come un circuito RC che introduce un ritardo che è dato dal prodotto RC.
Dobbiamo quindi ridurre la resistività della linea e ridurre il più possible il fenomeno dell' elettromigrazione.
Questo fenomeno è schematizzabile come un circuito RC che introduce un ritardo che è dato dal prodotto RC. Dobbiamo quindi ridurre la resistività della linea e ridurre il più possible il fenomeno dell' elettromigrazione. Poichè la resistività è più bassa e l'energia di attivazione(che è direttamente proporzionale al tempo medio in cui si verifica all'elettromigrazione)è più alta(e a noi fa comodo perchè più questo tempo aumenta meno si verifica l'elettromigrazione) nel rame rispetto all'alluminio allora il primo è un candidato per l'utilizzo.
Ci sono anche alcuni svantaggi:
 
* Minor propenzione alla passivazione,esponibile a fenomeni di corrosione.
*:Questo avviene perchè l'alluminio ha un più basso valore del potenziale redox, mentre nel rame è più alto e quindi non avviene la passivazione.Questo potenziale non è abbastanza alto e quindi è soggetto a corrosione.
* Elevata diffusività nel silicio e suoi ossidi.
*:Questo complica un po il processo, infatti per evitare che il rame si diffonda nel silicio si aplica una barriera attorno al rame di Ta.
*I suoi Grani cambiano nel tempo.
 
* Elevataelevata diffusività nel silicio e suoi ossidi.
*:Questo complica un po il processo, infatti per evitare che il rame si diffonda nel silicio si aplica una barriera attorno al rame di Ta.
 
*I suoi Grani cambiano nel tempo.
=== Damascene ===
Il rame non forma composti volatili ed è quindi difficile da asportare. Non posso usare il metodo in figura.
Non posso usare il metodo dell'alluminio illustrato in figura1.[[File:sottrat.jpg|250px|thumb|left|Fig.1:Deposizione alluminio]]Questo metodo viene effettuato asportando l'alluminio , successivamente viene posto l'ossido e infine viene asportato il materiale in eccesso.
 
Il metodo che invece andiamo ora a descrivere prende il nome di "Damascene" fa infatti l'esatto contrario.
[[File:sottrat.jpg]]
Inizialmente mette l'ossido.<br>In seguito viene effettuato un processo di Etch. Infine, viene depositato il rame e poi viene meccanicamente eliminato la parte in eccesso.(fig.2) [[File:addiz.jpg|300px|thumb|right|Fig.2 Damascene]]
Iterando il procedimento per più strati si ha il Dual Damascene.
 
=== Elettroplating ===
[[File:elettrop.jpg|300px|thumb|left|Schema dell elettroplating]]
 
La deposizione del rame avviene in due fasi:
* deposizione di un film sottile(PVD)
* deposizione con la tecnica dell'elettroplating.
La tecnica dell' elettroplating non è altro che un processo che avviene in una cella elettrolitica.
Per prima cosa i atomi di Cu rappresentano l'anodo, mentre il wafer attraverso opportuni sostegni è collegato all'anodo.
Un metallo tende a liberarsi degli elettroni che sono liberi di muoversi attraverso tutto il metallo.
Questo blocco di rame si trova a contatto con una soluzione di rame(CuSO4) e i suoi ioni tendono ad entrare in soluzione.
avremo che la soluzione sarà elettricamente positiva e il metallo elettricamente negativo.Sotto l'azione di una differenza di potenziale questi ioni sono portati ad andare dall'anodo al catodo. Arrivati al catodo gli ioni si ricombinano e si depositano sul wafer secondo la relazione: <math>Cu^2 +2e^-</math>--> <math>Cu^0</math>. Quindi, sull'anodo il rame si ossida e sul wafer si riduce.
 
 
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